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参照标准: gb/t 19345.1 ( 最新修订版,天恒测控参与起草 )
测量非晶 / 纳米晶合金薄片、也可测量其他软磁材料
单片样磁场测量兼容国际主流的m.c 法和 h-coil 法
被测样品尺寸:w × l,t:10 μm ~500 μm
产品概述
td8160 专用于测量非晶或纳米晶薄片 (带) 交流磁特性的装置,由励磁及精密测量装置、单片磁导计、全自动测量软件组成测量频率(40 hz ~65 hz,可定制至 400 hz)。使用该装置可在能耗、效率、材料均匀性/一致性、可靠性、整个生命周期的成本等方面全面优化您的产品。参照标准: gb/t 19345.1 ( 最新修订版,天恒测控参与起草 ) 。
主要应用
● 被测材料种类:主要为非晶 / 纳米晶合金薄片、也可适用于测量其他软磁材料。
● 主要测量方法:单片样磁场测量兼容国际主流的方法:m.c 法和 h-coil 法。
● 被测样品尺寸:w ( 10 ~215 ) mm × l ( 280 ~320 ) mm,t:10 μm ~500 μm。
● 测量电学参量:电压、电流、功率、频率、相位、功率因数、谐波等。
● 测量磁性参量:磁通密度 b、磁场强度 h、磁极化强度 j、比总损耗 ps、比视在功率 ss
饱和磁通密度 bs、矫顽力 hc、磁导率、波形因数等。
● 绘制磁性曲线:磁化曲线、磁滞回线等;可切换多种磁测量单位。
功能特点
● 可选配专用的校准模块和校准转接头,通过高等级的电压表、电流表、功率表对装置进行校准。
● 样品的磁特性参数可溯源至电磁学基本量以保证测量数据的重复性、一致性、可比性和准确度。
● 标准样品仅用于测量数据比对,不得用于对本装置进行校准。
● 单片磁导计采用双磁轭结构,可实现磁轭退磁和样品退磁。
● 配备专业软件,除放置样品和设置参数外,整个测试过程可全自动完成。
● 软件操作简便,且具有强大的数据管理功能,方便查看历史数据和报告导出。
● 励磁源与测量装置采用模块化设计,方便升级和维修。
系统应用结构图
磁参量测量范围
测量条件:
● t:( 23 ± 5 )℃;试验开始之前,本装置应进行 30 分钟以上的预热。
● 试样放置于测定框内,在多次测量过程中,样品应不再被移动; 测量次数:3 ~10 次。
● 重复性 ={[(最大值 - 最小值)÷ 2 ] ÷ 平均值 } × 100%。
● 准确度一般指一年内系统的测量值与标准值的最大允许误差。
单片磁导计
全自动测量软件
非晶测量特性简介
非晶带材,与取向硅钢带材相比,有以下特点:
● 非晶带材的厚度很薄,一般为 0.025 mm,只有取向硅钢带材的 1/10 左右。
● 比总损耗很低,p1.5 / 50 的典型值约为 0.2 w/kg,该值是取向硅钢 p1.7 / 50 典型值的 1/5 左右。
● 具有高磁致伸缩和低的磁各向异性,且易产生应力而使其磁性能恶化。
● 还具有低矫顽力、高磁导率、低饱和磁感、高电阻率等特点。
● 由上可见,在工频下测量非晶磁性能,宜采用单片磁导计进行测量 ( 单片法 )。
测量方法
● 单片法是国际主流的非晶测量方法之一,如美标 a932 和日标 h7152 均早已提出了该方法;
2014 年 iec 起草的标准,和我国 2015 年修订的 gb/t 19345.1 均提出了单片法测量非晶磁性能。
● 单片法与环样法相比,其测量数据更能反映材料本身的磁特性,且省去了制样与绕线等复杂过程。
● 由于铁基非晶带材的上述特点可见,单片法的技术要求和实现难度均很高;
与普通取向硅钢带材相比,对磁测设备的灵敏度要求高近 100 倍;
考虑到非晶带材试样很小